沿革

沿革

1920年(大正 9年) 創業
1937年(昭和12年) 恒温恒湿槽の完成
1949年(昭和24年) 東洋理化工業(株)設立
直読式pHメーター完成
1952年(昭和27年)

ウェザーメーター完成(カーボン式)


国産1号機のウェザーメーター
(カーボン式)

国産1号機のフェードメーター
(カーボン式)
1953年(昭和28年) 積算照度計完成
ガラス電極の高アルカリ性硝子開発
(通産省応用研究補助金受領)
1954年(昭和29年)

フェードメーター完成(カーボン式)

1955年(昭和30年)

オゾンウェザーメーター完成


国産1号機の塩水噴霧試験機
1956年(昭和31年)

塩水噴霧試験機完成

1957年(昭和32年) pHメーター(科学技術庁注目発明選定)

カラーメーター(三刺激値測色計)完成


1957年当時のカラーメーター
1959年(昭和34年) 自動式測色色差計完成
キセノンフェード・ウェザーメーター完成

ウェザーメーター生産風景
1960年(昭和35年) オゾン濃度測定器、南極観測に活躍
1961年(昭和36年) カラーコンピューター完成
(通産省応用研究補助金受領)
アダムスの色差計算機開発
キャス試験機完成
1964年(昭和39年) 変角光沢計完成
分光老化試験機完成*

1964年当時の新宿本社
1966年(昭和41年) 日光紫外線分光測定装置完成
1969年(昭和44年) 太陽追跡ばく露装置完成*
1970年(昭和45年) 酸素指数燃焼性試験器完成
1971年(昭和46年) デジタル測色色差計算機完成*
1972年(昭和47年) 輻射計開発(通産省応用研究補助金受領)
1974年(昭和49年)

スガ試験機(株)に名称変更

太陽追跡分光分布測定装置完成

1975年(昭和50年) 酸素濃度自動燃焼試験装置開発
(科学技術庁発明実施化補助金受領)

ロングライフカーボンウェザーメーター完成

ISO式(噴霧塔)塩水噴霧試験機完成

1976年(昭和51年) キセノンロングライフウェザーメーター完成
1978年(昭和53年) 複合サイクル試験装置完成
1979年(昭和54年) SMカラーコンピューター完成
太陽光追跡ばく露測定装置開発(科学技術庁発明実施化補助金受領)
1980年(昭和55年) 日高研究所完成
1980年当時の日高研究所
1981年(昭和56年) スガウェザリング技術振興財団設立(故内田俊一 初代理事長)
1982年(昭和57年) デューパネル光コントロールウェザーメーター完成
1983年(昭和58年) 2号館完成
変角測色計完成*
1984年(昭和59年) 多光源分光測色計完成

キセノンウェザーメーターISOに登録

1985年(昭和60年)

耐候降雪試験装置完成 科学技術庁長官注目発明賞


世界初の耐候降雪試験装置
1987年(昭和62年)

300サンシャインウェザーメーター完成

1988年(昭和63年)

日高キセノンランプ工場完成

スーパーキセノンウェザーメーター完成

1990年(平成 2年) 耐候降雪試験装置 全国発明表彰受賞
1991年(平成 3年) 太陽電池式照度計完成
300サンシャインウェザーメーター 科学技術庁注目発明選定
1992年(平成 4年) 酸性雨腐食試験機完成
耐候降雪試験装置 国土庁長官賞特別賞

酸性雨腐食試験機
1993年(平成 5年)

メタリングウェザーメーター完成

1994年(平成 6年) 測色計のTM2光路方式 科学技術庁注目発明選定
1995年(平成 7年) 光加速分光劣化試験装置完成
1996年(平成 8年) 耐候光試験機の光エネルギー受感装置 科学技術庁注目発明選定

酸素・水素電解ガス製造装置開発

(科学技術振興事業団補助金受領)
ウェザーメーター集中管理システム開発
TM式水フィルター完成
ISO9001認定登録


酸素・水素電解ガス製造装置
1997年(平成 9年) 照度可変カラーメーター完成
高エネルギー分光老化試験機完成
高出力12kWキセノンウェザーメーター完成
太陽電池大面積耐候劣化試験装置開発
太陽電池電流電圧(IV)特性測定装置開発
スプレー水シリカ検出装置完成
耐候吹付汚染促進試験機完成
1998年(平成10年)

日高研究所第3工場完成

垂直型メタリングウェザーメーター開発

電解法オゾン発生装置開発(科学技術振興事業団補助金受領)
自動測色ロボット開発

1999年(平成11年) 太陽光超エネルギーランプ及び点灯装置開発(科学技術振興事業団補助金受領)
酸素・水素電解ガス発生装置 科学技術庁注目発明選定
紫外線蛍光法SO2自動濃度調節計開発
オゾン処理による浄化装置開発
2000年(平成12年)

JCSS計量法「光認定事業者」認定(通産大臣認定番号0085)

サンシャイン排気清浄装置完成
腐食試験機用排気・排液回収処理装置完成
微小面分光測色計完成


JCSS認定証
JNLA認定証
2001年(平成13年) シリカ濃度連続測定器・携帯型シリカ濃度測定器開発
pH・塩濃度変動抑止型 塩水噴霧試験機完成
標準板校正方式ヘーズコンピューター完成
2002年(平成14年) 超高速耐候試験装置完成(豊田中央研究所と技術提携)

JNLA工業標準化法「認定試験事業者」認定
(認定番号020174JP)

自動電気再生方式 純水製造装置開発

同位体測定用水電解装置開発
(東京工業大学と技術提携)

日高研究所第4号館 完成

2003年(平成15年)

人工衛星無重力対応型水電解装置開発
(航空宇宙技術研究所と技術提携)

小型太陽追跡暴露装置完成
垂直型メタリングバーチカルウェザーメーター米国特許取得
校正用標準オゾンガス発生装置完成
塩素ガス(Cl2)校正装置・濃度測定装置開発


人工衛星 無重力対応型
水電解装置
2004年(平成16年) 宇宙空間 二酸化炭素分解・酸素製造システム開発
(宇宙航空開発研究機構と共同研究)
新JIS対応オゾンウェザーメーター完成
2槽独立型(縦型)7.5kW スーパーキセノンウェザーメーター完成
2005年(平成17年) 濃度制御型混合ガス試験機完成
小型オゾンウェザーメーター完成
自動純水装置(EDI+RO膜型)完成
湿度制御型オゾンウェザーメーター完成

3kW垂直式メタリングバーチカルウェザーメーター完成
(世界初 垂直点灯型 日・米特許取得)

2006年(平成18年)

リモート式 促進プラズマ試験機完成
(日本ペイントと技術提携)

耐候試験用オゾン除去装置の開発
デジタル多角度光沢計完成

2槽独立型(並列型) 7.5kWスーパーキセノンウェザーメーター完成

JNLA工業標準化法「登録試験事業者」登録
(登録番号020174JP)

:ISO/IEC17025認証


2槽独立型7.5kWスーパーキセノンウェザーメーター
2007年(平成19年) リモート式 促進プラズマ試験機(光照射付)の開発
揺動試験装置付オゾンウェザーメーター完成
試料室開放型ヘーズメーター完成
分光放射照度計完成
Bluetoothによるカラーメーター・光沢計・ヘーズメーターの集中管理システムの開発

JCSS計量法「光校正登録事業者」登録(登録番号0085):ISO/IEC17025認証

2008年(平成20年) 2槽独立型キセノン・サンシャインウェザーメーター完成
2槽独立型キセノン・メタリングウェザーメーター完成
試料回転式塩水噴霧試験機完成
試料台開放型ヘーズメーター完成
携帯型光沢計Gloss Mobile完成
新旧JIS対応型オゾンウェザーメーター完成

川越新工場完成


日高工場と川越新工場
(2008年10月)
2009年(平成21年) 太陽電池モジュール用
複合加速劣化試験装置(キセノン8灯)完成
温湿度・結露サイクル型ガス腐食試験機完成

新宿本社(2009年2月)
2010年(平成22年) キセノンウェザーメーター(グローバルモデル)GX75完成
試料回転式塩水噴霧試験機STP-90VR完成
コンパクト測色計CC-i完成

「光区分の国際MRA対応認定事業者」認定
2011年(平成23年) ヘーズメーター HZ-V3完成
キセノンウェザーメーター NX75完成

JCSS計量法「光区分の国際MRA対応認定事業者」認定(ISO/IEC 17025認証)

2012年(平成24年) 携帯分光測色計CC-m完成
CEマーク付EU適合宣言7機種(耐候GX75型・SX75型、腐食CYP90型、摩耗NUS-ISO3型、測色CC-i型、ヘーズHZ-V3型、光測定RAX型)

スガヨーロッパ支店開設

SUGA Open Lab at AGFA完成
塵埃試験機(砂塵気流式・吹付式)完成


携帯分光測色計
CC-m
2013年(平成25年) 自動純水装置 OS-Z完成
2014年(平成26年)

経済産業省「グローバルニッチトップ企業100選」選定

ガス腐食試験機 GT-100型完成
カラーメーター CC-iS型、CC-iW型、CC-m型完成
グロスメーター GC-1型完成
紫外線蛍光灯ウェザーメーター FUV型完成

2015年(平成27年) CEマーク付EU適合宣言5機種
(腐食CCT-2LZ型、飛石試験機JA400LA型、
可視光線透過率・反射率計HA-TR型
染色堅ろう度摩擦試験機FR-P2型)
2016年(平成28年) 複合サイクル試験機 CYP-100R型完成
2017年(平成29年)

ANAB認定(放射照度計、温度計、圧力計、ISO/IEC17025校正)

卓上型の塩水噴霧試験機STP-30型完成

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