技術文献

試料室開放型のヘーズメーター 大型の試料が容易に測定出来る装置の開発 スガ試験機株式会社 築添 剛

従来からヘーズ(曇りの度合い)の測定をはじめ透過試料の光学的な測定(色、分校透過率等)は、測定装置の試料室を密閉し外光が試料室には入らない状態で測定するのが一般的です。試料が大きく試料室に入りきらない場合、試料を切り出す必要があります。最近では大型の試料のまま測定したいというニーズが増えてきました。この場合、試料室は開放しますので、外光が入らないように暗室等で測定する等の手間が必要となっていました。
そこで、当社は大型の試料でも容易に測定ができるように、試料室を開放したままでも蛍光灯などの外光の影響を受けない「試料室開放型のヘーズメーター」を開発しましたので紹介します。
(TEST vol.14 2010年1月)

ページトップへ